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型号：JX-2000B型
应用范围：
配置透反射显微镜，适用于冶金、电子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、医药、金属、非金属矿等各种粉体颗粒的形貌观察和粒度分析；还可用于陶瓷．金属合金等各种不透光的物体表面结构的观察测试。
主要性能：
光学显微镜放大成像，专业级摄像头，高速高分辨率图像采集卡，图像动态快速显示于
电脑，直接观察粉体颗粒的形貌，专用软件进行粒度分析。全平场消色差物镜，最大分
辨率0.07微米，最大光学放大倍数1600倍，图像显示和打印最大倍数4000倍(A4幅面)。
测量范围：
0.5μm～2000μm
分析软件：提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积等分布数据。同时提供D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等数据，配有（30）多种图像分析和处理功能，可以满足各种图像处理需要。
测量结果：
颗粒形貌可存盘打印，还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业特殊要求，设计磨
料、硅灰石等专用软件。
测量方法：
透射：将样品置于载玻片上，运行专用软件，由电脑分析处理，计算数据。
反射：将样品置于物镜下方，运行专用软件，由电脑分析处理，计算数据。
图像分析处理：具有二值化、填充、分割、删除、边界滤波、面积滤波、粒子属性查看、设置标尺网格等多种功能。
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